CTN-300 Panukat ng Kapal ng Coating
Ang BRK CTN-300 meter at mga probe ay hiwalay na ibinebenta. Mangyaring pumili ng nais na probe para sa iyong partikular na gamit kapag binibili ang metrong ito.
- Ang lahat ng metro at probe ng BRK ay direktang ipinapadala mula sa manufacturer at nangangailangan ng 10-15 araw ng negosyo para sa pagpapadala.
- Mayroon ding mga opsyon at konfigurasyon na pasadyang magagamit. Mangyaring makipag-ugnayan sa amin kung kailangan mo ng tulong sa iyong partikular na gamit.
I-download
I-download
Ang BRK CTN-300 Coating Thickness Gauge ay idinisenyo para sa maraming gamit at napakataas na katumpakan sa pagsukat ng mga layer ng coating sa iba't ibang uri ng substrate.
Pinagsasama nito ang mga prinsipyo ng magnetic induction at eddy current measurement kasama ang mga matalinong algorithm sa kalibrasyon upang magbigay ng tumpak at pare-parehong resulta mula sa mga napakanipis na dekoratibong coating hanggang sa mga proteksyong layer na pang-industriya.
Compatible sa iba't ibang espesyal na probe, kaya ng CTN-300 na sukatin ang mga ferrous, non-ferrous, at aluminum na substrate pati na rin ang mga kumplikadong pakurbang ibabaw tulad ng mga tubo, turnilyo, at maliliit na bahagi. Ang malawak nitong saklaw ng pagsukat at matibay na mga feature ay nagpapagawa rito para sa quality control sa paggawa, inspeksyon ng pagpoproseso ng metal, pag-verify ng plating at anodizing, at pagsusuri sa proteksyon laban sa kalawang sa mga mapanghamong kapaligirang pang-industriya.
-
Malawak na Saklaw ng Pagsukat
Sinusuportahan ang pagsukat ng kapal ng coating mula 0.003 mm (3 µm) hanggang 13 mm (13,000 µm), na sumasaklaw sa malawak na uri at kapal ng mga coating. -
Compatibility sa Maraming Probe
Gumagana sa hanggang 13 na espesyal na probe, kabilang ang mga magnetic, non-magnetic, high-temperature, at right-angle na bersyon para sa pinakamataas na versatility. -
Teknolohiya ng Magnetic Induction at Eddy Current
Awtomatikong natutukoy ang uri ng substrate (ferrous o non-ferrous) at ginagamit ang tamang prinsipyo ng pagsukat para sa tumpak na resulta. -
Mataas na Katumpakan at Matalinong Kalibrasyon
Ang mga advanced na algorithm sa pag-detect at awtomatikong routine sa kalibrasyon ay nagbibigay ng maaasahan at paulit-ulit na pagsukat nang may kaunting setup lamang ng gumagamit. -
Maraming Mode ng Pagsukat
Sinusuportahan ang single measurement, continuous scan, at mga statistical na function (average, max, min, count, standard deviation) para sa flexible na workflow ng inspeksyon. -
Matibay na Paghawak ng Datos
May built-in na imbakan ng datos na may kakayahang mag-export at mga alarma para sa mataas at mababang limitasyon para sa quality control at pag-uulat. -
Portable at Pang-Field
Ang matibay na metal na balot at rechargeable na lithium-ion battery ay sumusuporta sa mahabang paggamit sa mga workshop at kapaligirang pang-field.
Mga Karaniwang Gamit
- Inspeksyon ng industrial na pagpipintura at powder coating
- Pag-verify ng plating, anodizing, at pagproseso ng ibabaw
- Quality control ng coating sa mga sasakyan at eroplano
- Pagsubaybay sa proteksyon laban sa kalawang sa mga barko at paggawa ng barko
- Inspeksyon ng proseso ng paggawa at pag-fabricate
- Pangkalahatang laboratoryo at pananaliksik sa mga materyales
Mga Kasama sa Kahon
- Pangunahing yunit ng CTN-300 gauge
- Set ng calibration foil
- Carrying case
- Charging cable
- User manual
Mga Espesipikasyon
| Prinsipyo ng Pagsukat | Magnetic induction at eddy current (awtomatikong pag-detect ng substrate) |
| Saklaw ng Pagsukat | Hanggang 13 mm (13,000 µm) depende sa configuration ng probe |
| Resolusyon | 0.1 µm (lahat ng probe):contentReference[oaicite:9]{index=9} |
| Mode ng Display | Numerical na pagbasa na may high-contrast LCD |
| Mga Statistical na Function | Average, Maximum, Minimum, Count, Standard Deviation:contentReference[oaicite:10]{index=10} |
| Mga Mode ng Operasyon | Direktang pagsukat, Continuous scan:contentReference[oaicite:11]{index=11} |
| Imbakan ng Datos | 10 grupo, kabuuang 1000 pagbasa:contentReference[oaicite:12]{index=12} |
| Pinagkukunan ng Kuryente | Rechargeable na lithium-ion battery:contentReference[oaicite:13]{index=13} |
| Koneksyon ng Probe | Nakatatanggal na kable (nagpapalitan ng mga probe):contentReference[oaicite:14]{index=14} |
Mga Maaaring I-download
Mga Probe
Compact na magnetic na probe na idinisenyo para sa tumpak na pagsukat ng manipis na coating sa mga ferrous na substrate tulad ng bakal at bakal.
Talahanay ng Paghahambing
| Mga Coating Thickness Gauge | CTN-210B | CTN-210C | CTN-230 | CTN-300 | BT-T7 | BT-T7A |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Uri / Prinsipyo | Magnetic induction at eddy current coating gauge | Magnetic induction at eddy current coating gauge |
Magnetic induction at eddy current coating gauge. |
Magnetic induction at eddy current coating gauge, multi-probe system | Through-coating ultrasonic thickness gauge | Through-coating ultrasonic thickness gauge |
| Saklaw ng Pagsusukat | Depende sa probe, hanggang 0–10,000 μm | Depende sa probe, mula micron hanggang millimeter | Karaniwang hanggang ~1250 µm | Depende sa probe, hanggang 13 mm (13,000 μm) depende sa probe | 0.7–500 mm (standard na mode, bakal) | 0.7–350 mm (standard na mode, bakal) |
| Kakayahang Sukatin ang Coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sinusukat ang kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating na hanggang 5 mm | Sinusukat ang kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating na hanggang 3 mm |
| Resolusyon | 0.1–1 μm depende sa probe | 0.1–1 μm depende sa probe | Hanggang 0.1 µm depende sa probe | Hanggang 0.1 μm depende sa probe | 0.01 mm | 0.01 mm |
| Katumpakan | Karaniwang ±(2%H + 1 μm) pagkatapos ng kalibrasyon | Karaniwang ±(1%H + 1 μm) pagkatapos ng kalibrasyon | Humigit-kumulang ±(1–3%) pagkatapos ng kalibrasyon | Depende sa probe, industrial QC grade | ±(0.6%H + 0.05) mm | ±(0.6%H + 0.1) mm |
| Suporta sa Probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Standard, micro, coarse at high-temp na mga probe | Standard, micro, coarse at high-temp na mga probe |
| Paghawak sa Datos | Pag-iimbak sa grupo na may pag-export sa PC | Internal na memorya na may pag-export sa USB/RS232 | Pag-iimbak sa grupo na may pag-export sa PC | Pag-iimbak ng datos na may mga statistical na function | Standard na pagbasa ng kapal | Standard na pagbasa ng kapal |
| Pinagkukunan ng Kuryente | Nabubuhay na lithium battery | Nabubuhay na baterya | Mga Bateryang AA | Nabubuhay na lithium-ion battery | Nabubuhay na Li-ion battery, karaniwang 160+ oras | Mga bateryang AA, karaniwang 50+ oras |
| Pangunahing Gamit | Pagsusukat ng kapal ng coating sa industriya | Advanced na pagsusuri ng coating na may mga function ng datos | Pagsusukat ng kapal ng coating sa industriya | High-end na pagsusuri ng coating na may maraming probe | Kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating | Kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating, mid-range |
Hindi ma-load ang availability ng pickup
Impormasyon ng Produkto
Impormasyon ng Produkto
Ang BRK CTN-300 Coating Thickness Gauge ay idinisenyo para sa maraming gamit at napakataas na katumpakan sa pagsukat ng mga layer ng coating sa iba't ibang uri ng substrate.
Pinagsasama nito ang mga prinsipyo ng magnetic induction at eddy current measurement kasama ang mga matalinong algorithm sa kalibrasyon upang magbigay ng tumpak at pare-parehong resulta mula sa mga napakanipis na dekoratibong coating hanggang sa mga proteksyong layer na pang-industriya.
Compatible sa iba't ibang espesyal na probe, kaya ng CTN-300 na sukatin ang mga ferrous, non-ferrous, at aluminum na substrate pati na rin ang mga kumplikadong pakurbang ibabaw tulad ng mga tubo, turnilyo, at maliliit na bahagi. Ang malawak nitong saklaw ng pagsukat at matibay na mga feature ay nagpapagawa rito para sa quality control sa paggawa, inspeksyon ng pagpoproseso ng metal, pag-verify ng plating at anodizing, at pagsusuri sa proteksyon laban sa kalawang sa mga mapanghamong kapaligirang pang-industriya.
-
Malawak na Saklaw ng Pagsukat
Sinusuportahan ang pagsukat ng kapal ng coating mula 0.003 mm (3 µm) hanggang 13 mm (13,000 µm), na sumasaklaw sa malawak na uri at kapal ng mga coating. -
Compatibility sa Maraming Probe
Gumagana sa hanggang 13 na espesyal na probe, kabilang ang mga magnetic, non-magnetic, high-temperature, at right-angle na bersyon para sa pinakamataas na versatility. -
Teknolohiya ng Magnetic Induction at Eddy Current
Awtomatikong natutukoy ang uri ng substrate (ferrous o non-ferrous) at ginagamit ang tamang prinsipyo ng pagsukat para sa tumpak na resulta. -
Mataas na Katumpakan at Matalinong Kalibrasyon
Ang mga advanced na algorithm sa pag-detect at awtomatikong routine sa kalibrasyon ay nagbibigay ng maaasahan at paulit-ulit na pagsukat nang may kaunting setup lamang ng gumagamit. -
Maraming Mode ng Pagsukat
Sinusuportahan ang single measurement, continuous scan, at mga statistical na function (average, max, min, count, standard deviation) para sa flexible na workflow ng inspeksyon. -
Matibay na Paghawak ng Datos
May built-in na imbakan ng datos na may kakayahang mag-export at mga alarma para sa mataas at mababang limitasyon para sa quality control at pag-uulat. -
Portable at Pang-Field
Ang matibay na metal na balot at rechargeable na lithium-ion battery ay sumusuporta sa mahabang paggamit sa mga workshop at kapaligirang pang-field.
Mga Karaniwang Gamit
- Inspeksyon ng industrial na pagpipintura at powder coating
- Pag-verify ng plating, anodizing, at pagproseso ng ibabaw
- Quality control ng coating sa mga sasakyan at eroplano
- Pagsubaybay sa proteksyon laban sa kalawang sa mga barko at paggawa ng barko
- Inspeksyon ng proseso ng paggawa at pag-fabricate
- Pangkalahatang laboratoryo at pananaliksik sa mga materyales
Mga Kasama sa Kahon
- Pangunahing yunit ng CTN-300 gauge
- Set ng calibration foil
- Carrying case
- Charging cable
- User manual
Mga Espesipikasyon
| Prinsipyo ng Pagsukat | Magnetic induction at eddy current (awtomatikong pag-detect ng substrate) |
| Saklaw ng Pagsukat | Hanggang 13 mm (13,000 µm) depende sa configuration ng probe |
| Resolusyon | 0.1 µm (lahat ng probe):contentReference[oaicite:9]{index=9} |
| Mode ng Display | Numerical na pagbasa na may high-contrast LCD |
| Mga Statistical na Function | Average, Maximum, Minimum, Count, Standard Deviation:contentReference[oaicite:10]{index=10} |
| Mga Mode ng Operasyon | Direktang pagsukat, Continuous scan:contentReference[oaicite:11]{index=11} |
| Imbakan ng Datos | 10 grupo, kabuuang 1000 pagbasa:contentReference[oaicite:12]{index=12} |
| Pinagkukunan ng Kuryente | Rechargeable na lithium-ion battery:contentReference[oaicite:13]{index=13} |
| Koneksyon ng Probe | Nakatatanggal na kable (nagpapalitan ng mga probe):contentReference[oaicite:14]{index=14} |
Mga Maaaring I-download
Mga Probe
Compact na magnetic na probe na idinisenyo para sa tumpak na pagsukat ng manipis na coating sa mga ferrous na substrate tulad ng bakal at bakal.
Talahanay ng Paghahambing
| Mga Coating Thickness Gauge | CTN-210B | CTN-210C | CTN-230 | CTN-300 | BT-T7 | BT-T7A |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Uri / Prinsipyo | Magnetic induction at eddy current coating gauge | Magnetic induction at eddy current coating gauge |
Magnetic induction at eddy current coating gauge. |
Magnetic induction at eddy current coating gauge, multi-probe system | Through-coating ultrasonic thickness gauge | Through-coating ultrasonic thickness gauge |
| Saklaw ng Pagsusukat | Depende sa probe, hanggang 0–10,000 μm | Depende sa probe, mula micron hanggang millimeter | Karaniwang hanggang ~1250 µm | Depende sa probe, hanggang 13 mm (13,000 μm) depende sa probe | 0.7–500 mm (standard na mode, bakal) | 0.7–350 mm (standard na mode, bakal) |
| Kakayahang Sukatin ang Coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sukat lamang ng kapal ng coating | Sinusukat ang kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating na hanggang 5 mm | Sinusukat ang kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating na hanggang 3 mm |
| Resolusyon | 0.1–1 μm depende sa probe | 0.1–1 μm depende sa probe | Hanggang 0.1 µm depende sa probe | Hanggang 0.1 μm depende sa probe | 0.01 mm | 0.01 mm |
| Katumpakan | Karaniwang ±(2%H + 1 μm) pagkatapos ng kalibrasyon | Karaniwang ±(1%H + 1 μm) pagkatapos ng kalibrasyon | Humigit-kumulang ±(1–3%) pagkatapos ng kalibrasyon | Depende sa probe, industrial QC grade | ±(0.6%H + 0.05) mm | ±(0.6%H + 0.1) mm |
| Suporta sa Probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Maraming maaaring palitan na probe | Standard, micro, coarse at high-temp na mga probe | Standard, micro, coarse at high-temp na mga probe |
| Paghawak sa Datos | Pag-iimbak sa grupo na may pag-export sa PC | Internal na memorya na may pag-export sa USB/RS232 | Pag-iimbak sa grupo na may pag-export sa PC | Pag-iimbak ng datos na may mga statistical na function | Standard na pagbasa ng kapal | Standard na pagbasa ng kapal |
| Pinagkukunan ng Kuryente | Nabubuhay na lithium battery | Nabubuhay na baterya | Mga Bateryang AA | Nabubuhay na lithium-ion battery | Nabubuhay na Li-ion battery, karaniwang 160+ oras | Mga bateryang AA, karaniwang 50+ oras |
| Pangunahing Gamit | Pagsusukat ng kapal ng coating sa industriya | Advanced na pagsusuri ng coating na may mga function ng datos | Pagsusukat ng kapal ng coating sa industriya | High-end na pagsusuri ng coating na may maraming probe | Kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating | Kapal ng base metal sa pamamagitan ng mga coating, mid-range |
Paglalarawan
Paglalarawan
Ang impormasyon sa iyong pagbabayad ay ligtas na pinoproseso. Hindi kami nag-iimbak ng mga detalye ng credit card o may access sa impormasyon ng iyong credit card.
Product Category: Measuring Tools & Sensors
Ilan sa aming mga pinahahalagahang customer:













