Tragbares Spektrokolorimeter der Serie TS70
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Das 3NH TS70 Serie Spektrokolorimeter ist eine hochmoderne Lösung für präzise Farbmessung und -analyse.
TS7010 / TS7020 / TS7030 / TS7036
Professionelle Farbmessung für präzisionsorientierte Ergebnisse
Die 3nh TS70-Serie umfasst vier hochentwickelte Modelle, die alle für eine genaue, wiederholbare Farbmessung in Qualitätskontrollanwendungen in einer Vielzahl von Branchen konzipiert sind. Jedes Gerät verfügt über ein optisches High-End-System mit einem zweireihigen 24-Gruppen-Silizium-Photodioden-Array, einer Vollspektrum-LED-Lichtquelle und einem kapazitiven True-Color-Touchscreen, was schnelle, präzise Ergebnisse ohne die Notwendigkeit eines angeschlossenen PCs liefert.
Ob Sie in den Bereichen Kunststoff, Beschichtungen, Textilien, Keramik oder Elektronik arbeiten, die TS70-Serie gewährleistet eine konsistente Auswertung sowohl des Farbabstands (ΔE) als auch der absoluten Farbwerte (L, a, b*)**, unter Einhaltung internationaler und nationaler Farbmessstandards.
Modelle:
-
TS7010: Standardmodell mit 8 mm Messöffnung
-
TS7020: Enthält UV-Lichtquelle zur Messung fluoreszierender Proben
-
TS7030: Bietet zwei Messöffnungen für flexible Probenkompatibilität
-
TS7036: Optimiert für strukturierte oder glänzende Oberflächen
Hauptmerkmale:
- Außergewöhnliche Wiederholgenauigkeit und Präzision mit ΔEab ≤ 0,1 und langfristiger Lab-Stabilität
-
Vollspektrum-LED, Plangitteroptik und hochauflösendes Sensor-Array für überlegene Farbpräzision
-
Eingebauter Speicher für bis zu 500 Standardproben und 10.000 Testdatensätze
-
Wiederaufladbarer Lithium-Akku unterstützt bis zu 6.000 Messungen mit einer Ladung
-
Eigenständiger Betrieb—keine PC-Verbindung oder Software zur Auswertung und zum Vergleich von Farbunterschieden erforderlich
Anwendungen
-
Kunststoffe und Polymere
-
Farben, Lacke und Beschichtungen
-
Textilien, Färberei und Druck
-
Keramik und Fliesen
-
Elektronikgehäuse und Komponenten
Hinweis: Dieser Artikel wird direkt vom Hersteller versandt. Bitte planen Sie für die Auftragsabwicklung und den Versand aller 3nh-Instrumente zusätzliche 3-5 Werktage ein.
Technische Daten
| Modell | TS7010 | TS7020 | TS7030 | TS7036 |
| Optische Geometrie | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) SCI-Modus Entspricht CIE Nr. 15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil 7 | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) |
| Eigenschaften | Φ8mm Messöffnung, verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Φ8mm Messöffnung, verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Einzelne Messöffnung, höhere Anpassungsfähigkeit; verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Zwei Messöffnungen, höhere Anpassungsfähigkeit; verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen. Entspricht CIE Nr. 15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil 7 |
| Größe der Ulbricht-Kugel | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm |
| Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle, UV-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle, UV-Lichtquelle |
| Spektralphotometrischer Modus | Plangitter | Plangitter | Plangitter | Plangitter |
| Sensor | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 24 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 24 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 32 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 32 Gruppen) |
| Wellenlängenbereich | 400~700nm | 400~700nm | 400~700nm | 400~700nm |
| Wellenlängenintervall | / | / | 10nm | 10nm |
| Halbwertsbreite | 10nm | 10nm | 10nm | 10nm |
| Gemessener Reflexionsbereich | L: 0~100; Reflexionsvermögen: Das Reflexionsvermögen kann bei 1 benutzerdefinierten Wellenlänge gemessen werden (Standard: 550nm) | L: 0~100; Reflexionsvermögen: Das Reflexionsvermögen kann bei 3 benutzerdefinierten Wellenlängen gemessen werden (Standard: 440nm, 550nm, 600nm) | L: 0~120; Reflexionsvermögen: 0~200% | L: 0~120; Reflexionsvermögen: 0~200% |
| Messöffnung | Φ8mm | Φ8mm | Einzelne Öffnungen: Φ8mm/Φ10mm | Zwei Öffnungen: MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm |
| Glanzkomponente | SCI | SCI | SCI/SCE | |
| Farbraum | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh, s-RGB, βxy, Munsell (C/2) | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, βxy, DIN Lab9, DIN Lab99, Munsell (C/2) |
| Farbabstandsformel | ΔE*ab, ΔE*00 | ΔE*ab, ΔE*00 | ΔE*ab, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00, DINΔE99 | ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00, DINΔE99 |
| Andere kolorimetrische Indizes | / | / | WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Hunter), | WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), Metamerie-Index MI, Anschmutzechtheit, Farbechtheit, Farbstärke, Opazität, Farbkartensuche |
| Beobachterwinkel | 10° | 10° | 2°/10° | 2°/10° |
| Lichtart | D65, A, F2 (CWF) | D65, A, F2 (CWF) | D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30) | D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2 (CWF), F3, F4, F5, F6, F7 (DLF), F8, F9, F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30) |
| Anzeigedaten | Reflexionsvermögen (der Benutzer gibt das Reflexionsvermögen bei 1 spezifischen Wellenlänge an), Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Reflexionsvermögen (der Benutzer gibt das Reflexionsvermögen bei 3 spezifischen Wellenlängen an), Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Spektrogramm/Werte, Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Spektrogramm/Werte, Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset |
| Anzeigegenauigkeit | 0,1 | Anzeige 0,1, Speicher 0,01 | 0,01 | 0,01 |
| Messzeit | Ca. 1,5s | Ca. 1,5s | Ca. 1,5s (Messung SCI & SCE ca. 3,2s) | Ca. 1,5s (Messung SCI & SCE ca. 3,2s) |
| Wiederholbarkeit | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,1 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,08 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,06 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,05 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) |
| Inter-Instrument-Fehler | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,4 | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,4 | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,3 (Durchschnitt für 12 BCRA Serie II Farbkacheln) | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,3 (Durchschnitt für 12 BCRA Serie II Farbkacheln) |
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Wissensdatenbank
Sper Wissensdatenbank > Farbmanagement
Kolorimeter vs. Spektrophotometer: Welches ist das beste Werkzeug zur Messung der Farbkonsistenz?
Die Bedeutung der Farbmessung in der Qualitätskontrolle
Auswahl der perfekten Blende
Was ist der Unterschied zwischen einem Kolorimeter und einem Spektrokolorimeter?
Abholverfügbarkeit konnte nicht geladen werden.
Produktinformationen
Produktinformationen
Das 3NH TS70 Serie Spektrokolorimeter ist eine hochmoderne Lösung für präzise Farbmessung und -analyse.
TS7010 / TS7020 / TS7030 / TS7036
Professionelle Farbmessung für präzisionsorientierte Ergebnisse
Die 3nh TS70-Serie umfasst vier hochentwickelte Modelle, die alle für eine genaue, wiederholbare Farbmessung in Qualitätskontrollanwendungen in einer Vielzahl von Branchen konzipiert sind. Jedes Gerät verfügt über ein optisches High-End-System mit einem zweireihigen 24-Gruppen-Silizium-Photodioden-Array, einer Vollspektrum-LED-Lichtquelle und einem kapazitiven True-Color-Touchscreen, was schnelle, präzise Ergebnisse ohne die Notwendigkeit eines angeschlossenen PCs liefert.
Ob Sie in den Bereichen Kunststoff, Beschichtungen, Textilien, Keramik oder Elektronik arbeiten, die TS70-Serie gewährleistet eine konsistente Auswertung sowohl des Farbabstands (ΔE) als auch der absoluten Farbwerte (L, a, b*)**, unter Einhaltung internationaler und nationaler Farbmessstandards.
Modelle:
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TS7010: Standardmodell mit 8 mm Messöffnung
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TS7020: Enthält UV-Lichtquelle zur Messung fluoreszierender Proben
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TS7030: Bietet zwei Messöffnungen für flexible Probenkompatibilität
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TS7036: Optimiert für strukturierte oder glänzende Oberflächen
Hauptmerkmale:
- Außergewöhnliche Wiederholgenauigkeit und Präzision mit ΔEab ≤ 0,1 und langfristiger Lab-Stabilität
-
Vollspektrum-LED, Plangitteroptik und hochauflösendes Sensor-Array für überlegene Farbpräzision
-
Eingebauter Speicher für bis zu 500 Standardproben und 10.000 Testdatensätze
-
Wiederaufladbarer Lithium-Akku unterstützt bis zu 6.000 Messungen mit einer Ladung
-
Eigenständiger Betrieb—keine PC-Verbindung oder Software zur Auswertung und zum Vergleich von Farbunterschieden erforderlich
Anwendungen
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Kunststoffe und Polymere
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Farben, Lacke und Beschichtungen
-
Textilien, Färberei und Druck
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Keramik und Fliesen
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Elektronikgehäuse und Komponenten
Hinweis: Dieser Artikel wird direkt vom Hersteller versandt. Bitte planen Sie für die Auftragsabwicklung und den Versand aller 3nh-Instrumente zusätzliche 3-5 Werktage ein.
Technische Daten
| Modell | TS7010 | TS7020 | TS7030 | TS7036 |
| Optische Geometrie | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) SCI-Modus Entspricht CIE Nr. 15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil 7 | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) | D/8 (diffuse Beleuchtung, 8-Grad-Betrachtungswinkel) |
| Eigenschaften | Φ8mm Messöffnung, verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Φ8mm Messöffnung, verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Einzelne Messöffnung, höhere Anpassungsfähigkeit; verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen | Zwei Messöffnungen, höhere Anpassungsfähigkeit; verwendet für präzise Farbmessung und Qualitätskontrolle in der Kunststoffelektronik, bei Farben und Lacken, Textilien, Bedruckung, Keramik und anderen Branchen. Entspricht CIE Nr. 15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil 7 |
| Größe der Ulbricht-Kugel | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm |
| Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle, UV-Lichtquelle | Kombinierte Vollspektrum-LED-Lichtquelle, UV-Lichtquelle |
| Spektralphotometrischer Modus | Plangitter | Plangitter | Plangitter | Plangitter |
| Sensor | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 24 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 24 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 32 Gruppen) | Silizium-Photodioden-Array (zweireihig, 32 Gruppen) |
| Wellenlängenbereich | 400~700nm | 400~700nm | 400~700nm | 400~700nm |
| Wellenlängenintervall | / | / | 10nm | 10nm |
| Halbwertsbreite | 10nm | 10nm | 10nm | 10nm |
| Gemessener Reflexionsbereich | L: 0~100; Reflexionsvermögen: Das Reflexionsvermögen kann bei 1 benutzerdefinierten Wellenlänge gemessen werden (Standard: 550nm) | L: 0~100; Reflexionsvermögen: Das Reflexionsvermögen kann bei 3 benutzerdefinierten Wellenlängen gemessen werden (Standard: 440nm, 550nm, 600nm) | L: 0~120; Reflexionsvermögen: 0~200% | L: 0~120; Reflexionsvermögen: 0~200% |
| Messöffnung | Φ8mm | Φ8mm | Einzelne Öffnungen: Φ8mm/Φ10mm | Zwei Öffnungen: MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm |
| Glanzkomponente | SCI | SCI | SCI/SCE | |
| Farbraum | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh, s-RGB, βxy, Munsell (C/2) | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, βxy, DIN Lab9, DIN Lab99, Munsell (C/2) |
| Farbabstandsformel | ΔE*ab, ΔE*00 | ΔE*ab, ΔE*00 | ΔE*ab, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00, DINΔE99 | ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00, DINΔE99 |
| Andere kolorimetrische Indizes | / | / | WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Hunter), | WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, Hunter), YI (ASTM D1925, ASTM 313), Metamerie-Index MI, Anschmutzechtheit, Farbechtheit, Farbstärke, Opazität, Farbkartensuche |
| Beobachterwinkel | 10° | 10° | 2°/10° | 2°/10° |
| Lichtart | D65, A, F2 (CWF) | D65, A, F2 (CWF) | D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30) | D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2 (CWF), F3, F4, F5, F6, F7 (DLF), F8, F9, F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30) |
| Anzeigedaten | Reflexionsvermögen (der Benutzer gibt das Reflexionsvermögen bei 1 spezifischen Wellenlänge an), Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Reflexionsvermögen (der Benutzer gibt das Reflexionsvermögen bei 3 spezifischen Wellenlängen an), Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Spektrogramm/Werte, Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset | Spektrogramm/Werte, Proben-Chromatizitätswerte, Farbabstandswerte/-grafik, PASS/FAIL-Ergebnis, Farbsimulation, Farb-Offset |
| Anzeigegenauigkeit | 0,1 | Anzeige 0,1, Speicher 0,01 | 0,01 | 0,01 |
| Messzeit | Ca. 1,5s | Ca. 1,5s | Ca. 1,5s (Messung SCI & SCE ca. 3,2s) | Ca. 1,5s (Messung SCI & SCE ca. 3,2s) |
| Wiederholbarkeit | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,1 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,08 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,06 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) | Chromatizitätswert: MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,05 (wenn eine Weißkalibrierungsplatte nach der Weißkalibrierung 30-mal in 5-Sekunden-Intervallen gemessen wird) |
| Inter-Instrument-Fehler | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,4 | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,4 | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,3 (Durchschnitt für 12 BCRA Serie II Farbkacheln) | MAV/SCI, innerhalb ΔE*ab 0,3 (Durchschnitt für 12 BCRA Serie II Farbkacheln) |
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Product Category: Spektrometer
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