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Spettrocolorimetro portatile serie TS70
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Lo spettrocolorimetro della serie 3NH TS70 è una soluzione all'avanguardia per la misurazione e l'analisi precisa del colore.
TS7010 / TS7020 / TS7030 / TS7036
Misurazione professionale del colore per risultati basati sulla precisione
La serie 3nh TS70 include quattro modelli avanzati, tutti progettati per una misurazione del colore accurata e ripetibile in applicazioni di controllo qualità in un'ampia varietà di settori. Ogni dispositivo è dotato di un sistema ottico di alta gamma con una serie di fotodiodi al silicio a due file da 24 gruppi, una sorgente luminosa a LED a spettro completo e un touchscreen capacitivo a colori reali, che offre risultati rapidi e precisi senza la necessità di collegare un PC.
Che si lavori con plastica, rivestimenti, tessuti, ceramica o elettronica, la serie TS70 garantisce una valutazione coerente sia della differenza di colore (ΔE) che dei valori di colore assoluti (L, a, b*)**, rispettando al contempo gli standard nazionali e internazionali di misurazione del colore.
Modelli:
-
TS7010: Modello standard con apertura da 8 mm
-
TS7020: Include una sorgente luminosa UV per la misurazione di campioni fluorescenti
-
TS7030: Offre doppie aperture per una compatibilità flessibile con i campioni
-
TS7036: Ottimizzato per superfici testurizzate o lucide
Caratteristiche principali:
- Eccezionale ripetibilità e precisione con ΔEab ≤ 0,1 e stabilità a lungo termine di Lab
-
LED a spettro completo, ottica a reticolo piano e serie di sensori ad alta risoluzione per una precisione del colore superiore
-
Memoria integrata che memorizza fino a 500 campioni standard e 10.000 record di test
-
Batteria al litio ricaricabile che supporta fino a 6.000 misurazioni con una singola carica
-
Funzionamento indipendente: non è necessaria alcuna connessione al PC o software per valutare e confrontare le differenze di colore
Applicazioni
-
Plastiche e polimeri
-
Vernici, inchiostri e rivestimenti
-
Tessuti, tintoria e stampa
-
Ceramica e piastrelle
-
Involucri e componenti elettronici
Nota: questo articolo viene spedito direttamente dal produttore. Si prega di considerare 3-5 giorni lavorativi aggiuntivi per l'elaborazione dell'ordine e la spedizione per tutti gli strumenti 3nh.
Specifiche
| Modello | TS7010 | TS7020 | TS7030 | TS7036 |
| Geometria ottica | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) Modalità SCI Conforme a CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) |
| Caratteristica | Aperture Φ8mm, utilizzate per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Aperture Φ8mm, utilizzate per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Singola apertura, maggiore adattabilità; utilizzata per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Doppia apertura, maggiore adattabilità; utilizzata per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori. Conforme a CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 |
| Dimensioni sfera integratrice | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm |
| Sorgente luminosa | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata, sorgente luminosa UV | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata, sorgente luminosa UV |
| Modalità spettrofotometrica | Reticolo piano | Reticolo piano | Reticolo piano | Reticolo piano |
| Sensore | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 24 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 24 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 32 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 32 gruppi) |
| Intervallo di lunghezza d'onda | 400～700nm | 400～700nm | 400～700nm | 400～700nm |
| Intervallo di lunghezza d'onda | / | / | 10nm | 10nm |
| Larghezza di banda | 10nm | 10nm | 10nm | 10nm |
| Intervallo di riflettanza misurato | L:0~100; riflettanza: la riflettanza può essere misurata a 1 lunghezza d'onda specifica specificata dall'utente (predefinito: 550nm) | L:0~100; riflettanza: la riflettanza può essere misurata a 3 lunghezze d'onda specifiche specificate dall'utente (predefinito: 440nm, 550nm, 600nm) | L:0~120; riflettanza: 0~200% | L:0~120; riflettanza: 0~200% |
| Apertura di misurazione | Φ8mm | Φ8mm | Aperture singole: Φ8mm/Φ10mm | Doppie aperture: MAV:Φ8mm/Φ10mm; SAV:Φ4mm/Φ5mm |
| Componente speculare | SCI | SCI | SCI/SCE | |
| Spazio colore | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,s-RGB,βxy,Munsell(C/2) | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,βxy,DIN Lab9,DIN Lab99 Munsell(C/2) |
| Formula differenza colore | ΔE*ab,ΔE*00 | ΔE*ab,ΔE*00 | ΔE*ab,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99 | ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99 |
| Altro indice colorimetrico | / | / | WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter), | WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter), YI(ASTM D1925,ASTM 313), Indice di metamerismo MI, Solidità alla macchia, Solidità del colore, Intensità del colore, Opacità, Ricerca scheda colore |
| Angolo osservatore | 10° | 10° | 2°/10° | 2°/10° |
| Illuminante | D65,A,F2(CWF) | D65,A,F2(CWF) | D65,A,C,D50,F2(CWF),F7(DLF),F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30) | D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4,F5,F6,F7(DLF),F8,F9,F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30) |
| Dati visualizzati | Riflettanza (l'utente specifica la riflettanza a 1 lunghezza d'onda specifica), Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Riflettanza (l'utente specifica la riflettanza a 3 lunghezze d'onda specifiche), Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Spettrogramma/Valori, Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Spettrogramma/Valori, Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore |
| Precisione visualizzata | 0.1 | Display 0.1, archiviazione 0.01 | 0.01 | 0.01 |
| Tempo di misurazione | Circa 1.5s | Circa 1.5s | Circa 1.5s (Misura SCI & SCE circa 3.2s) | Circa 1.5s (Misura SCI & SCE circa 3.2s) |
| Ripetibilità | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.1 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.08 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.06 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.05 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) |
| Errore inter-strumento | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.4 | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.4 | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.3 (media per 12 piastrelle colorate BCRA Series II) | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.3 (media per 12 piastrelle colorate BCRA Series II) |
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Base di conoscenza
Sper Knowledge Base > Gestione del colore
Navigare nello spettro: una guida completa alla scelta dello spettrofotometro giusto per le proprie esigenze
Colorimetri vs. Spettrofotometri: qual è lo strumento migliore per misurare la coerenza del colore?
L'importanza della misurazione del colore nel controllo qualità
Selezionare l'apertura perfetta
Qual è la differenza tra colorimetri e spettrocolorimetri?
Colorimetri vs. Spettrofotometri: qual è lo strumento migliore per misurare la coerenza del colore?
L'importanza della misurazione del colore nel controllo qualità
Selezionare l'apertura perfetta
Qual è la differenza tra colorimetri e spettrocolorimetri?
Impossibile caricare la disponibilità per il ritiro
Informazioni sul prodotto
Informazioni sul prodotto
Lo spettrocolorimetro della serie 3NH TS70 è una soluzione all'avanguardia per la misurazione e l'analisi precisa del colore.
TS7010 / TS7020 / TS7030 / TS7036
Misurazione professionale del colore per risultati basati sulla precisione
La serie 3nh TS70 include quattro modelli avanzati, tutti progettati per una misurazione del colore accurata e ripetibile in applicazioni di controllo qualità in un'ampia varietà di settori. Ogni dispositivo è dotato di un sistema ottico di alta gamma con una serie di fotodiodi al silicio a due file da 24 gruppi, una sorgente luminosa a LED a spettro completo e un touchscreen capacitivo a colori reali, che offre risultati rapidi e precisi senza la necessità di collegare un PC.
Che si lavori con plastica, rivestimenti, tessuti, ceramica o elettronica, la serie TS70 garantisce una valutazione coerente sia della differenza di colore (ΔE) che dei valori di colore assoluti (L, a, b*)**, rispettando al contempo gli standard nazionali e internazionali di misurazione del colore.
Modelli:
-
TS7010: Modello standard con apertura da 8 mm
-
TS7020: Include una sorgente luminosa UV per la misurazione di campioni fluorescenti
-
TS7030: Offre doppie aperture per una compatibilità flessibile con i campioni
-
TS7036: Ottimizzato per superfici testurizzate o lucide
Caratteristiche principali:
- Eccezionale ripetibilità e precisione con ΔEab ≤ 0,1 e stabilità a lungo termine di Lab
-
LED a spettro completo, ottica a reticolo piano e serie di sensori ad alta risoluzione per una precisione del colore superiore
-
Memoria integrata che memorizza fino a 500 campioni standard e 10.000 record di test
-
Batteria al litio ricaricabile che supporta fino a 6.000 misurazioni con una singola carica
-
Funzionamento indipendente: non è necessaria alcuna connessione al PC o software per valutare e confrontare le differenze di colore
Applicazioni
-
Plastiche e polimeri
-
Vernici, inchiostri e rivestimenti
-
Tessuti, tintoria e stampa
-
Ceramica e piastrelle
-
Involucri e componenti elettronici
Nota: questo articolo viene spedito direttamente dal produttore. Si prega di considerare 3-5 giorni lavorativi aggiuntivi per l'elaborazione dell'ordine e la spedizione per tutti gli strumenti 3nh.
Specifiche
| Modello | TS7010 | TS7020 | TS7030 | TS7036 |
| Geometria ottica | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) Modalità SCI Conforme a CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) | D/8 (illuminazione diffusa, angolo di visione di 8 gradi) |
| Caratteristica | Aperture Φ8mm, utilizzate per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Aperture Φ8mm, utilizzate per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Singola apertura, maggiore adattabilità; utilizzata per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori | Doppia apertura, maggiore adattabilità; utilizzata per una misurazione accurata del colore e il controllo qualità in elettronica di plastica, vernici e inchiostri, stampa tessile e tintura di indumenti, stampa, ceramica e altri settori. Conforme a CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 |
| Dimensioni sfera integratrice | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm | Φ40mm |
| Sorgente luminosa | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata, sorgente luminosa UV | Sorgente luminosa a LED a spettro completo combinata, sorgente luminosa UV |
| Modalità spettrofotometrica | Reticolo piano | Reticolo piano | Reticolo piano | Reticolo piano |
| Sensore | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 24 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 24 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 32 gruppi) | Serie di fotodiodi al silicio (doppia fila 32 gruppi) |
| Intervallo di lunghezza d'onda | 400～700nm | 400～700nm | 400～700nm | 400～700nm |
| Intervallo di lunghezza d'onda | / | / | 10nm | 10nm |
| Larghezza di banda | 10nm | 10nm | 10nm | 10nm |
| Intervallo di riflettanza misurato | L:0~100; riflettanza: la riflettanza può essere misurata a 1 lunghezza d'onda specifica specificata dall'utente (predefinito: 550nm) | L:0~100; riflettanza: la riflettanza può essere misurata a 3 lunghezze d'onda specifiche specificate dall'utente (predefinito: 440nm, 550nm, 600nm) | L:0~120; riflettanza: 0~200% | L:0~120; riflettanza: 0~200% |
| Apertura di misurazione | Φ8mm | Φ8mm | Aperture singole: Φ8mm/Φ10mm | Doppie aperture: MAV:Φ8mm/Φ10mm; SAV:Φ4mm/Φ5mm |
| Componente speculare | SCI | SCI | SCI/SCE | |
| Spazio colore | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,s-RGB,βxy,Munsell(C/2) | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,βxy,DIN Lab9,DIN Lab99 Munsell(C/2) |
| Formula differenza colore | ΔE*ab,ΔE*00 | ΔE*ab,ΔE*00 | ΔE*ab,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99 | ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99 |
| Altro indice colorimetrico | / | / | WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter), | WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter), YI(ASTM D1925,ASTM 313), Indice di metamerismo MI, Solidità alla macchia, Solidità del colore, Intensità del colore, Opacità, Ricerca scheda colore |
| Angolo osservatore | 10° | 10° | 2°/10° | 2°/10° |
| Illuminante | D65,A,F2(CWF) | D65,A,F2(CWF) | D65,A,C,D50,F2(CWF),F7(DLF),F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30) | D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4,F5,F6,F7(DLF),F8,F9,F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30) |
| Dati visualizzati | Riflettanza (l'utente specifica la riflettanza a 1 lunghezza d'onda specifica), Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Riflettanza (l'utente specifica la riflettanza a 3 lunghezze d'onda specifiche), Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Spettrogramma/Valori, Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore | Spettrogramma/Valori, Valori di cromaticità dei campioni, Valori/Grafico della differenza di colore, Risultato PASS/FAIL, Simulazione colore, Offset colore |
| Precisione visualizzata | 0.1 | Display 0.1, archiviazione 0.01 | 0.01 | 0.01 |
| Tempo di misurazione | Circa 1.5s | Circa 1.5s | Circa 1.5s (Misura SCI & SCE circa 3.2s) | Circa 1.5s (Misura SCI & SCE circa 3.2s) |
| Ripetibilità | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.1 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.08 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.06 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) | Valore di cromaticità: MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.05 (Quando una piastra di calibrazione bianca viene misurata 30 volte a intervalli di 5 secondi dopo la calibrazione bianca) |
| Errore inter-strumento | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.4 | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.4 | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.3 (media per 12 piastrelle colorate BCRA Series II) | MAV/SCI, entro ΔE*ab 0.3 (media per 12 piastrelle colorate BCRA Series II) |
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