Pagpili ng Tamang BRK Probe
Ang pagpili ng probe ay nakakaapekto sa saklaw ng pagsukat, pagiging sensitibo, at pag-access sa tinutuksong ibabaw. Magsimula sa eksaktong modelo ng instrumento ng BRK, pagkatapos ay isaalang-alang ang materyal, inaasahang kapal, heometriya ng ibabaw, at temperatura ng pagpapatakbo. Ang mga probe ay partikular sa modelo at hindi dapat ipagpalit sa isa't isa sa iba't ibang pamilya ng instrumento ng BRK.
Mga Probe sa Kapal ng Coating
Pumili ng mga probe sa kapal ng coating ayon sa kombinasyon ng substrate at coating. Sinusukat ng mga magnetic induction probe ang mga angkop na hindi magnetikong coating sa mga ferrous na substrate tulad ng bakal. Sinusukat ng mga eddy current probe ang mga angkop na hindi conductive na coating sa mga nonferrous na metal na substrate tulad ng aluminum. Kumpirmahin ang saklaw ng pagsukat ng probe, minimum na kapal ng substrate, at mga kinakailangan sa kurba ng ibabaw.
Mga Ultrasonic Thickness Probe
Ang pagpili ng ultrasonic thickness probe ay nakadepende sa materyal, kapal ng dingding, kondisyon ng ibabaw, at kinakailangang resolusyon. Ang mas maliit na contact area ay makakatulong sa mga masisikip na lokasyon o pakurbang ibabaw. Ang dalas at disenyo ng probe ay nakakaapekto sa pagpasok at kakayahang makita ang mga manipis na bahagi. Ang mga aplikasyong may mataas na temperatura ay nangangailangan ng compatible na probe na ginagamit sa loob ng tinukoy nitong limitasyon sa temperatura at oras ng pagdikit.
Mga Probe ng Flaw Detector
Ang mga straight beam, angle beam, at dual crystal na ultrasonic probe ay nagbibigay ng iba't ibang landas ng tunog at kakayahan sa inspeksyon. Piliin ang konfigurasyon ayon sa pamamaraan ng inspeksyon, heometriya ng bahagi, at inaasahang oryentasyon ng depekto. Dapat ding itugma ang mga espesyal na probe para sa pag-inspeksyon ng weld at ibabaw sa sinusuportahang instrumento, pamamaraan ng pagsusuri, at aplikasyon.
Mga Impact Device ng Leeb Hardness Tester
Ang mga opsional na impact device ay nagbibigay-daan sa mga compatible na Leeb hardness tester na makaangkop sa iba't ibang laki ng workpiece, kondisyon ng ibabaw, at mga kinakailangang access. Suriin ang sinusuportahang uri ng impact device, minimum na bigat ng workpiece, kapal ng materyal, at mga kinakailangan sa paghahanda ng ibabaw bago mag-test.
Compatibility at Kalibrasyon
Kumpirmahin ang modelo ng probe, konektor, at suporta ng instrumento bago mag-order. Pagkatapos ikonekta o palitan ang isang probe, sundin ang mga tagubilin ng instrumento para sa pag-setup, pag-aayos ng zero, at kalibrasyon gamit ang mga angkop na reference standard. Ang pagtutugma lamang ng konektor ay hindi nagpapatunay ng compatibility.
